电容－积层陶瓷电容（贴片电容）静电容量测定的注意事项

发布时间：2019-04-15

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静电容量测定的注意事项

积层陶瓷电容器（以下、简称为MLCC）的静电容量在测定时、发生过如下问题吗？

来解决问题吧！！

※点击可移动至各个项目。

※关于静电容量的测定条件、请确认详细的规格表。

※关于静电容量全般的测定、请参考资料『陶瓷电容器的静电容量测量法』

温度补偿型（低容量）测定的注意事项

按以下顺序进行说明。

1)测定治具的“O”补正是？

2)OPEN补正时的端子间距离和静电容量测定值

3)静电容量测定值的变化理由

4)测定时的注意事项

1)测定治具的“O”补正是？

①如下图MLCC在测定时、会发生

・测定线上串联电阻以及电感
・MLCC夹住时测定端子间的浮游容量

造成不能准确的测定MLCC的静电容量。
所以、为了消除这些影响因素的行为就称为『测定治具的“O”补正』。

测定前的OPEN补正、SHORT补正就属于此补正。

②OPEN补正是把MLCC夹住时测定端子间的浮游容量消除、SHORT补正是把测定线上串联电阻以及电感消除

③在OPEN补正、SHORT补正后、MLCC测定精度可以得到确保。

2)OPEN补正时的端子间距离和静电容量测定值

以1pF的MLCC静电容量测定为例、改变OPEN补正时的测试治具端子间距离然后确认静电容量
结果、OPEN补正时端子间距离比MLCC的L尺寸越大静电容量测定值也越大、比MLCC的 L尺寸小静电容量测定值也变小。

■测定条件
品名：0201 1PF 50V +/-0.1PF
測定器：HP4278A
測定治具：HP TEST FIXTURE16034E
条件：1±0.1MHz/1±0.2Vrms

3)静电容量测定值的变化理由

■为何OPEN补正时端子间距离会使静电容量测试值产生变化呢？

■OPEN补正端子间距离和静电容量测定结果

4)测定时的注意事项

＜OPEN补正时的重点＞OPEN补正端子间距离和静电容量测定结果

OPEN补正时的端子间距离、请和瓷片的L寸法一致。

测定治具端子间距离长的情况下进行OPEN补正、补正时的浮游容量比实际的测定时的静电容量小。

OPEN补正端子间距离和MLCC L寸法不一样的状态下进行补正、治具自身的浮游容量就不能得到正确的0补正。
OPEN补正时端子间距离比MLCC L寸法小、导致治具间的浮游容量比实际大的情况下0补正、结果补正后的测定结果变小。

相反，端子间距离比MLCC L寸法大时、补正后的测定结果变大。
OPEN补正时端子间距离的偏差、比起使用夹具型的测定治具（例如Agilent16034）、镊子型的治具（例如Agilent16334）的偏差要大些。
镊子型的治具和夹具型的相比、测定端子先端的面积（式①的Ｓ）大、所以因端子间距离的差异而产生的静电容量测定值的变动也
按以下顺序进行说明。